菲希尔X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。

A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定多4层及24种元素。

B ：度于世界

C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。

D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、值、小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

E ：可测量任一测量点

样品台选择：

采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：

一：手动样品台

1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

二：自动样品台

1 程控样品台：XYZ轴自动控制。

2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

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